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立即法的首要條件是可以搜集到很多準確的衍射數據信息。假如一個分子篩材料可以制取變成具備充足規格的大單晶,大家就可以應用單晶X射線衍射儀進行很多衍射數據信息的搜集,隨后選用立即法就可以成功獲得分子篩結晶的內部結構結構。伴隨著包含正電荷耦合器件,與三維成像板,等二維探測儀的創造與普及化,單晶X射線衍射儀的數據采集速率早已獲得了質的提高,一個分子篩材料結構分析的一挑選。在現在已經知道分子篩結構中,碳分子篩廠家很多聚磷酸鹽分子篩與天然活性碳的結晶結構全是根據單晶X射線衍射測定方法的。
殊不知,并不是全部的分子篩材料都可以塑造出足夠大的單晶。實際上在近五年內報導的約50種分子篩結構中,僅有不上1/3的分子篩材料可以制取變成大單晶。針對一些沒法制取成實單晶的分子篩材料而言,只有運用其小外形尺寸的多晶樣晶開展結構測量。單晶與多晶的X射線衍射譜圖上經常會出現明顯的峰位重合。峰位重疊是多晶結構分析所遭遇的高的難點,他立即造成衍射抗壓強度沒法準確測量,因而這些相對高度依靠衍射抗壓強度的結構分析方式通常沒法立即用以多晶衍射數據信息。雖然選用同步輻射燈源可以在水平上減少峰位重疊問題,但針對活性碳分子篩這類具備繁雜結構的多晶材料而言是不能處理關鍵問題,因而大家需要研發出針對分子篩材料的多晶體結構分析方式。